开辟了二极管芯片计数检测系统新领域

上海锡明光电|在机器视觉检测|中开辟了|二极管芯片计数检测系统|新领域 一、 行业应用 1. 项目背景 作为LED的核心部件，管芯（二极管芯片）的工艺要求极高。从wafer上划裂然后倒膜至蓝膜上后需要经过严格的电测，测试参数决定了管芯的等级。除此还会进行人工的全检外观目测，通过吸管把外观不良的芯片剔除。作为产品的管芯有圆片和方片之分，但不管哪种都是已经经过人工剔除工序的产品，管芯数量就和之前确定的数量有很大差别，如何得到产品上***后工序以后的管芯数量靠人眼判断的话就存在很大的难度。二极管芯片计数系统就应运而生。 2. 产品说明 右边产品是圆片案例，管芯数目超过4万。扩膜以后的圆片直径在6公分左右。 二、 系统说明 1. 系统配置 1) 硬件 影像设备，光照设备，打印设备，扫描设备，主机设备。 2) 软件 图像调整模块，计数模块，参数优化模块，标签设计模块，统计模块。软件界面如右图所示。 2. 性能介绍 1) 可同时检测方片和圆片 2) 具有4万颗以上管芯的圆片计算时间在0.8秒以内。普通5千颗以下的方片计算时间在0.2秒以内。 3) 高均匀的背景光照和大面阵的图像采集设备保证了数量巨大，间距***的管芯图像的清晰度。 4) 高性能的管芯分割算法确保计数精度。 5) 局部结果放大观测功能（见软件界面中的黑色点状区域）确保软件参数设置准确。 6) 管芯有不同型号，不同蓝膜背景，系统配有对应的调整参数。 7) 自动搜寻服务器上相关产品的电测参数文件，提取特定信息生成固定文件及打印标签。